ÀüÀÚÆÄÀûÇÕÇ¥ÁؽÃÇè

Ȩ > ¾÷¹«¾È³» > ÀüÀÚÆÄÀûÇÕÇ¥ÁؽÃÇè
ÀüÀÚÆÄÀåÇØ½ÃÇè(EMI TEST)
ÀüÀÚÆÄÀåÇØ½ÃÇèÀº ¹æ¼ÛÅë½Å±âÀÚÀç¿¡¼­ ¹ß»ýÇÏ´Â ºÒ¿ä ÀüÀÚÆÄ·Î ºÎÅÍ ¹æ¼ÛÅë½Å¼­ºñ½º¸¦ º¸È£ ¹× Àü±â¡¤ÀüÀÚ±â±âÀÇ ¿Àµ¿ÀÛÀ» ¹æÁöÇÏ°í ±ÔÁ¤µÈ ±â¼ú±âÁØ¿¡ ÀûÇÕÇÏ°Ô »ý»ê¡¤ÆÇ¸ÅµÇµµ·Ï ½ÃÇèÇÏ¿© ¼ÒºñÀÚÀÇ ±ÇÀͺ¸È£¿Í ÀüÆÄÀÌ¿ëÁú¼­¸¦ È®¸³Çϱâ À§ÇØ ½ÃÇàÇÏ´Â Á¦µµÀÔ´Ï´Ù.
ÀüÀÚÆÄ³»¼º½ÃÇè(EMS TEST)
ÀüÀÚÆÄ³»¼º½ÃÇèÀº °¢Á¾ Àü±â¡¤ÀüÀÚÁ¦Ç° µîÀÇ »ç¿ëÀ¸·Î ¹ß»ýµÇ´Â ¿ÜºÎ ÀüÀÚÆÄÀÇ °£¼·À¸·ÎºÎÅÍ ¹æ¼ÛÅë½Å±âÀÚÀç°¡ ¾ÈÀüÇÏ°Ô Á¤»óÀûÀ¸·Î µ¿ÀÛÇÒ ¼ö ÀÖ´ÂÁö¸¦ °ü·Ã¹ý·É¿¡¼­ ±ÔÁ¤ÇÑ ±â¼ú±âÁØ¿¡ ÀǰнÃÇèÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
¼º´É°Ë»ç(Performance Inspection of EMC Equipments)
¼º´É°Ë»ç´Â ÀüÆÄ¹ý ¹× Àü±âÅë½Å±âº»¹ý¿¡ Àǰйæ¼ÛÅë½Å±âÀÚÀç ÁöÁ¤½ÃÇè ±â°üÀÌ º¸À¯Çϰí ÀÖ´Â ÀüÀÚÆÄ ÀûÇÕ ÃøÁ¤¼³ºñ¿¡ ´ëÇÏ¿© °ü·Ã ±âÁذú ¹æ¹ý¿¡ µû¶ó ¼º´É°Ë»ç¸¦ ½Ç½ÃÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.
ÀüÆÄ½ÃÇèÀÎÁõ¼¾ÅÍ ¹Ù·Î°¡±â